本产品为光学仪器(含X射线)的检测配置高低温原位样品环境的专用测试台,利用X射线衍射原理,精确测定不同温度下物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。其中,温度是一种重要的物理学参量,可对大部分物质的结构和性质产生调制作用,因此常被工业界用于调控结构和优化性能。
本产品为光学仪器(含X射线)的检测配置高低温原位样品环境的专用测试台,利用X射线衍射原理,精确测定不同温度下物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。其中,温度是一种重要的物理学参量,可对大部分物质的结构和性质产生调制作用,因此常被工业界用于调控结构和优化性能。
最高温度 | 200 ℃ |
最低温度 | RT |
最大升温速率 | 30 ℃/min |
温度稳定性 | <0.5 ℃ |
温度分辨率 | 0.1℃ |
温度传感器 | PT100铂电阻 |
控温方式 | PID动态调节 |
*可根据您的需求自由定制 |
利用X射线衍射原理,精确测定不同温度下物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。