(a) HDGEBA 和 CBMA 的化学结构[引文 29]。(b) 在涂有 Al2O3 的硅基底上制备环氧树脂样品的示意图。资料来源：《先进材......
由于采用了两个布拉格放大镜晶体（中间）和一个单光子计数探测器（左侧），新的 X 射线成像技术使用的 X 射线剂量要低得多。图示为样品。资料来源：......
X-射线反射测量法（X-ray reflectometry， XRR）是一种非破坏性的表面和界面分析技术。该技术可以测量薄膜的厚度、密度和粗糙度......
高压X射线晶体学是一种结合了X射线衍射技术和高压技术的科学技术。通过对物质样品施加高压，研究人员可以改变材料的结构和性质，以探索其潜在的应用。而......
在SAXS测试中，单色化、高准直性的X射线光束照射在通过样品之后，会被溶解在溶剂中的大分子散射。这些分子通常不会像在晶体中那样有着有序、静态......
小角X射线散射(SAXS)是一种分析溶液中生物大分子整体结构及构性改变的重要方法之一。小角X射线散射通常用于探明蛋白质的折叠、相......
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