如今，CD-SAXS（关键尺寸小角X射线散射）是下一代半导体制造的全行业测量技术。CD-SAXS由NIST研究人员Wen-Li Wu和Joe Kline开发，通过多项合作研发协议，在行业合作伙伴的帮助下，CD-SAXS从实验室技术成熟为实际......
X射线无损检测是一种用于检测材料内部缺陷的技术，它在工程领域中应用广泛。在制造过程中，材料可能会出现各种缺陷，如气孔、裂纹、夹杂物等。这些缺陷会影响材料的性能和品质，导致产品在使用过程中出现故障或者完全失效。...
在工业领域中，X射线应力分析技术已经得到了广泛的应用。这种技术可以帮助工程师们快速准确地检测出材料或构件中存在的应力缺陷，进而帮助他们进行更加精确的结构分析和疲劳寿命评估。...
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