本产品为光学仪器(含X射线)的检测配置高低温原位样品环境的专用测试台,通过精准控制样品台温度实现样品快速加热或冷却,观测和记录材料随温度变化过程中产生的结构和形貌变化,结合光学仪器的检测手段采集应变数据做定量分析。
本产品为光学仪器(含X射线)的检测配置高低温原位样品环境的专用测试台,通过精准控制样品台温度实现样品快速加热或冷却,观测和记录材料随温度变化过程中产生的结构和形貌变化,结合光学仪器的检测手段采集应变数据做定量分析。
最高温度 | 350℃ |
最低温度 | -195℃ |
最大升温速率 | 30℃/min(标准)/ 150℃/min(全量程) |
最大降温速率 | 30℃/min |
温度稳定性 | <0.05℃ |
温度分辨率 | 0.01℃ |
温控方式 | PID动态调节 |
温度传感器 | PT100 |
本产品适用于材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学针对材料特性的研究,与各种光学测试仪器或电子显微镜联合使用,用户可以自由设定温度的阶段变化,实现快速的加热或冷却样品,在微观上观测材料的形貌变化,结合光学仪器的测试数据可对内部结构变化做定量分析。