SmartXAFS X 射线吸收精细结构谱仪，采用固定X射线源的独特设计，移动晶体和探测器获取数据。XAFS对中心吸收原子的局域结构（尤其是在0.1nm范围内）及其化学环境十分敏感，可以在原子尺度上给出某一特征原子周围几个近邻配位壳层的结构信息。
SmartXAFS X 射线吸收精细结构谱仪，采用固定X射线源的独特设计，移动晶体和探测器获取数据。XAFS对中心吸收原子的局域结构（尤其是在0.1nm范围内）及其化学环境十分敏感，可以在原子尺度上给出某一特征原子周围几个近邻配位壳层的结构信息。
| XAFS能量范围 | 4.5 - 18 keV（Mo）；4.5 - 20 keV（Ag）；4.5 - 22 keV（Pd）；4.5 - 50 keV（液态金属靶） |
能量分辨率 | ≤ 0.5 - 1.5 eV |
XAFS模式重复 | ≤30 meV 能量尺度漂移 |
光源系统 | 支持各种不同靶材 高压最大可达60 kV，电流最大40 mA；功率≥2.2 kW |
单色器 | 高纯Si/Ge晶体 |
布拉格角度范围 | 55 - 85° |
| 探测器 | 高精度SDD 硅漂移探测器 |
样品台 | 10位样品轮批量自动测试 |
环境分析、能源材料、生物科学、材料科学、催化
