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GK-TST300V真空冷热拉伸台

产品型号:GK-TST300V
产品介绍

  通过电机驱动的方式设定恒速或恒力矩的方式对样品进行拉伸,温度控制可以设定为定点恒温或自由设定温度的阶段变化。温度范围内材料的动态应力应变特性,与光学测试系统实现联动测试。可以定量分析材料在原位环境的测试过程中相变发生、裂纹萌生和扩展、断裂、弯曲、高温蠕变等过程,同时结合光学测试系统的测试数据对材料产生变化的物质结构的深层因素进行定量分析。

技术指标


温度范围

-60~300 ℃(可定制)

升降温速度

±30 ℃/min

温度稳定性

<0.05 ℃

温度分辨率

0.01 ℃

拉力量程

10 N/100 N/200 N/500 N

拉力分辨率

0.01 N

位置分辨率

0.01 mm

速度

1~1000 μm/s

可在高真空(10-7torr)环境下使用

兼容LabVIEW及EPICS控制系统


产品应用

本产品广泛应用于高分子材料、柔性电子材料、薄膜类材料、金属及半导体材料等材料物化特性研究领域,可实现动态原位相结合的材料实验,动态采集应变数据,观测形变及断裂的产生条件,结合光学测试系统获得测试数据,表征材料力学性能随温度变化的特征。

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